基本機能
本装置は、非破壊式シール完全性試験装置です。超音波技術を用いることで、視覚では認識できない大きさのシールの欠陥、リークを非破壊で検出することが出来ます。また、製造ラインでのQA/QCに最適な設計であり、パウチ、フレキシブル・パッケージの完全性試験や品質分析試験を非常に高い精度で行うことが出来ます。本装置は、測定場所に合わせてオンライン・オフラインシステムの両方のモデルをご用意しております。
本装置は、ASTM Test Method F3004 – 13に準拠しております。
超音波技術
本装置ではテストに超音波技術を用いており、非常に高解像度な分析を行うことが可能です。この技術は1対のトランスデューサを用いており、シール部を挟み込むことで検査を行う為、ラインに直接貼られたシールに対して非常に効果的です。
超音波は、片方のトランスデューサから発信され、もう片方のトランスデューサで受信します。シールに欠陥があった場合、超音波が減衰して受信される為、欠陥の位置および大きさを特定することが可能です。この特徴は材質の違いによる変化が小さい為、幅広い材質に対してテストを行うことが可能です。
測定データ例
ポーチのシールを一部開いた状態でテストを行うと、次のような結果を得ることが出来ます。
リークがあるポーチ 
ポーチがある場合のシグナル
上記写真より、シールが開いている場所において、超音波のシグナルが大きく減衰していることが分かります。
次に欠陥のあるポーチに対してテストを行うと次のような結果を得ることが出来ます。
欠陥のあるポーチ 
欠陥のある場合のシグナル
上記写真より、先ほどと同様に欠陥の場所において、超音波のシグナルが大きく減衰していることが分かります。
こうしたシグナルから、対象の欠陥の大きさや位置を把握することが可能です。
資料ダウンロード
PTI社総合カタログ（真空減衰試験・高電圧試験・超音波試験）
